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基礎信息Product information

產(chǎn)品名稱：HIOKI材料介電常數(shù)測試儀

產(chǎn)品型號：IM7587

更新時間：2025-06-09

產(chǎn)品簡介：

日本日置阻抗分析儀IM7587，HIOKI材料介電常數(shù)測試儀測量頻率：1MHz~3GHz，測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值），基本精度：±0.65% rdg

產(chǎn)品特性Product characteristics

專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent技術工程師-堅JET和吉時利KEITHLEY應用工程師-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦的以技術支持為特色的代理貿(mào)易公司，志在破舊立新！*進口儀器設備大多廠家僅在國內設銷售點，技術支持薄弱或者沒有，而代理經(jīng)銷商也只專業(yè)做商務銷售，不專業(yè)做售前儀器設備選型配置/測試方案系統(tǒng)搭建，不專業(yè)做售后操作使用培訓/維修校準保養(yǎng)的空白。我們的技術銷售工程師均為本科以上學歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗，以我們*進*的經(jīng)營理念，專業(yè)為祖國用戶提供儀器設備、測試方案、技術培訓、維修服務，為上海華東地區(qū)一家以技術為導向的儀器設備綜合服務商。

日置HIOKI阻抗分析儀HIOKI材料介電常數(shù)測試儀系列產(chǎn)品
阻抗分析儀IM7587，可靠的產(chǎn)品3GHz
阻抗分析儀IM7585，測量頻率1MHz-1.3GHz阻抗分析儀
阻抗分析儀IM7583，測量頻率1MHz-600MHz阻抗分析儀
阻抗分析儀IM7581，測量頻率100kHz-300MHz阻抗分析儀
阻抗分析儀IM7580A，測量頻率1MHz-300MHz阻抗分析儀
化學阻抗分析儀IM3590，用于電氣化學零件、材料/電池/EDLC的阻抗分析儀
阻抗分析儀IM3570，測量頻率4Hz-5MHz阻抗分析儀
等效回路分析軟件IM9000，回路分析功能/阻抗分析儀選件
SMD測試夾具IM9201，高頻測量3GHz，對應6尺寸的SMD

日置HIOKI阻抗分析儀IM7587功能
阻抗分析儀IM7580系列：等效電路分析功能
能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數(shù)。而且，可以通過模擬功能，使用推測結果或者任意的常數(shù)來顯示頻率特性的理想值。此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結果是否在判定區(qū)域內。

阻抗分析儀IM7580系列：使用SMD治具IM9201進行LCR測量
IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。
和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用，能夠簡單準確的測量樣品。

阻抗分析儀IM7580系列：區(qū)域判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區(qū)域內。 “區(qū)域判定功能”是設置上限值和下限值的范圍，并以IN/NG來顯示判定結果。

阻抗分析儀IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區(qū)域內。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來設置范圍，并以IN/NG來顯示測量的峰值是否在判定區(qū)域內。

阻抗分析儀IM7580系列：SPOT判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區(qū)域內。
“SPOT判定功能”是選擇任意的掃描點和參數(shù)，Z多進行16點的判定。

阻抗分析儀IM7580系列：比較器功能
使用比較器功能，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區(qū)域內。
適用于判定樣品是否合格的功能。

阻抗分析儀IM7580系列：接觸檢查功能
使用接觸檢查功能，能夠檢查樣品和測量端口的接觸狀態(tài)，并確認接觸不良情況和連接狀態(tài)。
阻抗分析儀IM7580系列：測試頭的連接方法

測試頭的連接線連接阻抗分析儀。
稍微彎曲扭力扳手的手柄后擰緊螺母（0.56 N?m）。
請注意不要擰過頭。

日置HIOKI阻抗分析儀IM7587HIOKI材料介電常數(shù)測試儀特點
可信賴的機型3GHz
測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz
測量時間：0.5ms（模擬測量時間）
測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）
基本精度：±0.65% rdg.
緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小
豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量
主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀的測試治具。

技術規(guī)格參數(shù)指標

測量模式	LCR (LCR測量),分析儀 (掃頻測量), 連續(xù)測量
測量參數(shù)	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保證范圍	100 mΩ~5 kΩ
顯示范圍	Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度	Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
測量頻率	1 MHz~1.3 GHz (設置分辨率100kHz)
測量信號電平	功率 (dBm)模式： -40.0 dBm~ +1.0 dBm 電壓(V) 模式: 4 mV~502 mVrms 電流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms
輸出阻抗	50 Ω (10 MHz時)
顯示	彩色TFT 8.4英寸, 觸摸屏
測量時間	0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值）
功能	接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取/保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償
接口	EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件)
電源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
體積和重量	主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 測試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
附件	測試頭×1, 連接線×1, 使用說明書×1, CD-R (通訊說明書) ×1, 電源線×1