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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：美國(guó)吉時(shí)利源表KEITHLEY2636A

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-06-07

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

美國(guó)吉時(shí)利源表KEITHLEY2636A 中國(guó)電子行業(yè)儀器優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商——堅(jiān)融實(shí)業(yè)JETYOO INDUSTRIAL，Support、銷售Sale、服務(wù)Service，3S公司，提供解決方案、測(cè)試測(cè)量技術(shù)改進(jìn)、技術(shù)培訓(xùn)、采購(gòu)管理、售后維修服務(wù)。

產(chǎn)品特性Product characteristics

 中國(guó)電子行業(yè)儀器優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商——堅(jiān)融實(shí)業(yè)JETYOO INDUSTRIAL，Support、銷售Sale、服務(wù)Service，3S公司，提供解決方案、測(cè)試測(cè)量技術(shù)改進(jìn)、技術(shù)培訓(xùn)、采購(gòu)管理、售后維修服務(wù)。

吉時(shí)利KEITHLEY2600B系列源表研究領(lǐng)域：
各種器件的I-V功能測(cè)試和特征分析，包括：
 離散和無(wú)源元件 
–兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻
–三抽頭器件——小信號(hào)雙極結(jié)型晶體管（BJT）、場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FET）等等 
 簡(jiǎn)單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動(dòng)器、開(kāi)關(guān)、傳感器
 集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）
–模擬IC 
–射頻集成電路（RFIC）
–集成電路（ASIC）
–片上系統(tǒng)（SoC）器件
 光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）、顯示器
 圓片級(jí)可靠性
- NBTI、TDDB、HCI、電遷移
 太陽(yáng)能電池
 電池
暫態(tài)抑制器件
IC、RFIC、MMIC
激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測(cè)器
電路保護(hù)器件:
TVS、MOV、熔絲
安全氣囊
連接器、開(kāi)關(guān)、繼電器
碳納米管
半導(dǎo)體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機(jī)電子
基本運(yùn)放電路
二極管和電路
晶體管電路

測(cè)試：
漏流
低壓、電阻
LIV
IDDQ
I-V特征分析
隔離與軌跡電阻
溫度系數(shù)
正向電壓、反向擊穿、漏電流
直流參數(shù)測(cè)試
直流電源
HIPOT
介質(zhì)耐受性

雙極結(jié)型晶體管設(shè)計(jì)
結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
太陽(yáng)能電池和 LED 設(shè)計(jì)
高電子遷移率晶體管設(shè)計(jì)
復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)

分析納米材料和實(shí)驗(yàn)器件
碳納米管的電測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)量碳納米管電氣特性
提高納米電子和分子電子器件的低電流測(cè)量
在低功率和低壓應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、可靠的電阻測(cè)量
納米級(jí)器件和材料的電氣測(cè)量
提高超高電阻和電阻率測(cè)量的可重復(fù)性
一種微分電導(dǎo)的改進(jìn)測(cè)量方法
納米技術(shù)準(zhǔn)確電氣測(cè)量的技術(shù)
納米級(jí)材料的電氣測(cè)量
降低外部誤差源影響的儀器技術(shù)
迎接65nm節(jié)點(diǎn)的測(cè)量挑戰(zhàn)
測(cè)量半導(dǎo)體材料的高電阻率和霍爾電壓
用微微微安量程測(cè)量電流
柵極電介質(zhì)電容電壓特性分析
評(píng)估氧化層的可靠性

的半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)低電阻、低功耗半導(dǎo)體器
輸出極低電流和測(cè)量極低電壓分析現(xiàn)代材料、半導(dǎo)體和納米電子元件的電阻
低阻測(cè)量(低至10nΩ)分析導(dǎo)通電阻參數(shù)、互連和低功率半導(dǎo)體。
用于*進(jìn)CMOS技術(shù)的脈沖可靠性測(cè)試
高K柵極電介質(zhì)電荷俘獲行為的脈沖特性分析
用6線歐姆測(cè)量技術(shù)進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的電阻測(cè)量
配置分立電阻器驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)
電信激光二極管模塊的高吞吐率直流生產(chǎn)測(cè)試
多臺(tái)數(shù)字源表的觸發(fā)器同步
高亮度、可見(jiàn)光LED的生產(chǎn)測(cè)試
OLED顯示器的直流生產(chǎn)測(cè)試
在運(yùn)行中第5次測(cè)量用于偏置溫度不穩(wěn)定特性分析
數(shù)字源表的緩沖器以及如何用這兩個(gè)緩沖器獲取多達(dá)5000點(diǎn)數(shù)據(jù)
連接器的生產(chǎn)測(cè)試方案
射頻功率晶體管的直流電氣特性分析

1. MOS 電容器
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
摻雜類型 – 氧化層厚度 – 平帶電壓 – 閾值電壓 – 襯底摻雜 – zui大耗盡層寬度 – 反型層到平衡的靈敏度：電壓掃描率和方向 – 光效應(yīng)和溫度效應(yīng)。
I-V 曲線分析：
電荷建立 (測(cè)量電壓 - 時(shí)間圖，用低電流源)； 氧化層電容測(cè)定； 與 C-V 曲線比較。
C-V 曲線 (準(zhǔn)靜態(tài)) 結(jié)合 C-V 曲線：
表面電位 Ψs 與施加電壓的關(guān)系 – Si (100) 的表面態(tài)密度 Dit = f (Ψs) 與 Si (111) 的相比：方向和后處理退火的影響。
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
移動(dòng)氧化層電荷密度 (偏壓溫度應(yīng)力：200°C，10 分鐘，±10V)
 
2. 雙極結(jié)型晶體管
     主題
   正向共發(fā)射極輸出特性：Ic = f (Vce>0,Ib), Iceo (f) 測(cè)量。
   正向 CE 輸入特性：Ib = f (Vbe) 對(duì)于幾個(gè) Vce 正值。
   正向 Gummel 曲線： log Ic, log Ib = f(Vbe >0).
   確定增益 βf = Ic/Ib 和 af。
   Βf 與 log(Ic) 的關(guān)系： 低注入和高注入的效果。
   非理想特性：爾利電壓。
   反向 CE 輸出特性： Ic=f(Vce<0,Ib), Iceo(r).
   反向 CE 傳輸特性：Ib=f(Vbe) 對(duì)于幾個(gè)Vce負(fù)值。
   反向 Gummel 曲線： logIe, logIb=f(Vbc>0).
   確定增益 βr = Ie/Ib 和 ar。
   Βr 與 log(Ie) 的關(guān)系： 低注入和高注入的效果。
   Vce(sat) = Vbe(on) – Vbc(on) 確定，對(duì)于給定的 Ib 電流。
   Ebers Moll 模型構(gòu)建并且與實(shí)驗(yàn)做比較。
   BE 和 CE 結(jié)的 C-V 特性分析。基區(qū)摻雜濃縮。
 
3. 亞微米集成 MOSFET
輸出特性：IDS = f(VDS,VGS):
p型 MOSFET (增強(qiáng)或耗盡)，溝道長(zhǎng)度調(diào)制參數(shù)(λ) 在飽和區(qū)域 (VDS<–3V) 有效溝道長(zhǎng)度與 VDS 的關(guān)系。
傳輸特性：
IDS = f(VGS) and Transconductance gm = f(VGS) in the linear region (VDS = –0.1V): Determination of the threshold voltage VT and of the transconductance factor k.  
Derivation of the effective channel mobility μeff as function of VGS.
襯底偏壓特性： 
IDS = f(VGS,VBS>0), determination of the γ factor in the linear region (VDS = –0.1V). Doping concentration substrate.
亞閾值特性：
log (IDS) = f(VGS) for several high VDS values: Drain Induced Barrier Lowering (VT shift) effect.
襯底電流特性：
log (Ibs) = f(VGS) for several high VDS values: Hot carrier injection effects. Incidence on output characteristics at high drain levels.
使用長(zhǎng)溝道和短溝道公式的輸出特性模型：比較實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600數(shù)字源表進(jìn)行VCSEL測(cè)試
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600測(cè)量光伏電池的I-V特性
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2400系列數(shù)字源表的SCPI應(yīng)用轉(zhuǎn)換為2600系列源表的腳本應(yīng)用
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測(cè)試和待機(jī)電流測(cè)試
使用兩臺(tái)美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600型數(shù)字源表輸出2A電流
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600或其它非脈沖模式源表產(chǎn)生電流 (或電壓) 脈沖
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表提升多引腳器件的生產(chǎn)量
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2602數(shù)字源表創(chuàng)建可擴(kuò)縮、多引腳、多功能IC測(cè)試系統(tǒng)
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2602數(shù)字源表對(duì)激光二極管模塊和VCSEL進(jìn)行高吞吐率直流生產(chǎn)測(cè)試
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表進(jìn)行二極管生產(chǎn)測(cè)試
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表進(jìn)行高亮度、可見(jiàn)光LED的生產(chǎn)測(cè)試
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測(cè)試和待機(jī)電流測(cè)試
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600 數(shù)字源表驗(yàn)證變阻器
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600系列源表進(jìn)行電池放電/充電周期
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600配置電阻網(wǎng)絡(luò)的生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2651 2kW 脈沖源表進(jìn)行大電流變阻器的生產(chǎn)測(cè)試
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600數(shù)字源表進(jìn)行熱敏電阻的生產(chǎn)測(cè)試

美國(guó)2636A吉時(shí)利keithley數(shù)字源表是吉時(shí)利的I-V源-測(cè)量?jī)x器，既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具，也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用，美國(guó)吉時(shí)利keithley 2636A數(shù)字源表提供一款嵌入式TSPExpress測(cè)試軟件，允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試，無(wú)需編程或安裝軟件。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用，美國(guó)吉時(shí)利keithley 2636A數(shù)字源表的TSP架構(gòu)和新增功能，例如，并行測(cè)試能力和精密時(shí)鐘同步，提供了業(yè)界zui高吞吐量，從而降低了測(cè)試成本。
 
    美國(guó)吉時(shí)利keithley 2636A數(shù)字源表以性能的擴(kuò)展替代受歡迎的2600系列數(shù)字源表。因?yàn)?600A系列提供后向代碼兼容至2600系列，所以客戶能用美國(guó)吉時(shí)利keithley 2636A數(shù)字源表系列簡(jiǎn)易替換2600系列。
 
    一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器代碼后向兼容2600系列數(shù)字源表，便于更換 TSP Express軟件工具實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測(cè)試 精密定時(shí)和信道同步（<500ns） 
 
 
美國(guó)吉時(shí)利源表KEITHLEY2636A特點(diǎn)
2635A單通道系統(tǒng)數(shù)字源表，2636A雙通道系統(tǒng)數(shù)字源表
執(zhí)行并行測(cè)試，獲得無(wú)以倫比的吞吐量
20,000讀數(shù)/秒提供更快的測(cè)試時(shí)間和能力，捕捉器件瞬態(tài)性能
系列產(chǎn)品提供寬動(dòng)態(tài)范圍：1fA～10A和1µV～200V
TSP-Link總線支持每GPIB或IP地址多達(dá)32單元/64通道的通道擴(kuò)展
測(cè)試腳本處理器（TSP）以*的系統(tǒng)自動(dòng)化在儀器中執(zhí)行完整的測(cè)試程序（腳本）
USB端口用于保存數(shù)據(jù)和測(cè)試腳本
LXI Class C兼容性提供高速數(shù)據(jù)傳輸并且實(shí)現(xiàn)快捷地遠(yuǎn)程測(cè)試、監(jiān)控和排錯(cuò)
 
 
美國(guó)吉時(shí)利源表KEITHLEY2636A主要指標(biāo)
 電壓測(cè)量
 量程 顯示分辨率 輸入阻抗 準(zhǔn)確度（1年）
 23℃±5℃
 200.000mV 1µV >1014Ω ±（0.015%+225µV）
 2.00000V 10µV >1014Ω ±（0.02%+350µV）
 20.0000V 100µV >1014Ω ±（0.015%+5mV）
 200.000V 1mV >1014Ω ±（0.015%+50mV）
 電流測(cè)量
 量程 顯示分辨率 輸入端壓降 準(zhǔn)確度（1年）
 23℃±5℃
 100.00pA 1fA <1mV ±（0.15%+120fA）
 1.00000nA 10fA <1mV ±（0.15%+240fA）
 10.0000nA 100fA <1mV ±（0.15%+3pA）
 100.000nA 1pA <1mV ±（0.06%+40pA）
 1.00000µA 10pA <1mV ±（0.025%+400pA）
 10.0000µA 100pA <1mV ±（0.025%+1.5nA）
 100.000µA 1nA <1mV ±（0.02%+25nA）
 1.00000mA 10nA <1mV ±（0.02%+200nA）
 10.0000mA 100nA <1mV ±（0.02%+2.5µA）
 100.000mA 1µA <1mV ±（0.02%+20µA）
 1.00000A 10µA <1mV ±（0.03%+1.5mA）
 1.50000A 10µA <1mV ±（0.05%+3.5mA）
 10.0000A 100µA <1mV ±（0.4%+25mA）
 典型應(yīng)用 I-V功能測(cè)試和特性分析，
 晶圓級(jí)可靠性測(cè)試，
 測(cè)試集成電路如RFIC、ASIC、SOC，
 測(cè)試光電器件如LED、VCSEL和顯示器，
 測(cè)試納米材料和器件。
 
 
附件提供
2600-ALG-2：帶鱷魚夾的低噪聲三同軸測(cè)試導(dǎo)線2m（2636A配2條，2635A配1條），
2600-IAC:安全互鎖適配器接頭，
CA-180-3A：TSP-Link/以太網(wǎng)線（每臺(tái)2條），
TSP Express軟件工具（嵌入式），
Test Script Builder軟件（CD內(nèi)提供）。