新聞資訊您當前的位置：首頁 > 新聞資訊 > 上海堅融實業實驗納米級材料和器件開發測試方案
上海堅融實業實驗納米級材料和器件開發測試方案
日期：2014-06-13瀏覽：2099次
納米級材料和器件的制造通常始于化學、生物學或半導體器件 / 微電子實驗室。納米級材料和器件的電氣測量不僅揭示了電特性，還揭示了納米微粒的狀態密度等一般特性。這些基本特性可用于預測和控制物理特性，例如抗拉強度、顏色以及電導性和導熱性。然而，進行有意義的測量需要高靈敏度的儀器以及復雜的探頭技術。于納米技術研究的儀器不斷增加，但是用戶必須了解所需的測量類型，以及哪種測試系統特點將增加速度和準確度。上海堅融實業有限公司致力于實驗納米級材料和器件的開發測試方案，芝加哥大學K. Elteto 和 X.M. Lin指出由一系列金納米粒子形成的器件開發過程中，類似納米線、碳納米管和納米晶體的結構常常表現出與眾不同的特點。分析這些特點而不損壞*的結構需要能對源進行嚴格控制的系統，以防止器件自發熱。吉時利測量儀器將這種嚴格控制與超快測量速度和靈敏度結合在靈活、模塊化的結構中從而很容易適應不斷變化的測試要求。
低電平脈沖測量涉及輸出電流脈沖并測量所產生的電壓。因為美國吉時利KEITHLEY6221/2812A的組合用于解決在低信號電平、低電平噪聲條件下的脈沖特性分析問題。然而，6221/2182A恒流源納伏表組合與以往所有的測試配置在一些重要方面不相同。一個區別是所有脈沖測量都是差分 (或相對) 測量。這意味著會給測量信號增加誤差 (例如偏移、漂移、噪聲和熱電的 EMF) 的背景電壓被消除了。
由于熱電壓和儀表偏移產生的直流偏移會給測量的電壓帶來嚴重誤差。
使用 delta 模式測量技術消除偏移。
進行相對測量消除偏移誤差。
測量的 delta 電壓對電流脈沖產生正確的電壓響應。
兩點 delta 模式測量的操作是輸出電流脈沖并且在每次脈沖之前和脈沖期間各進行一次測量。得到這兩次測量的差值就消除了任何恒定的熱電偏移，保留了真實的電壓值。然而，兩點測量法不能消除隨時間漂移的熱電偏移。使用 delta 方法中的第三個測量點就能消除漂移的偏移量。
一種可選的第三個測量點能幫助消除移動的偏移量。
第三個測量點是可選的，但是并不可取。例如，取決于器件的定時特性，如果輸出的電流脈沖對器件有長期效應，那么由于 DUT 脈沖帶來的熱量，用于取消移動偏移的第三測量點可能包含誤差，因此弊大于利。
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 美國BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創DEWETRON
- ARC電池絕熱量熱儀/熱安全性能
- 德國GMC-I高美
- 百特Bettersize
聯系我們
在線客服：
